Отклоняющая система электронного микроскопа

Отклоняющая система электронного микроскопа

25. Отклоняющая система электронного микроскопа

Отклоняющая система

D. Ablenksystem

E. Deflection system

-

Электронно-оптический элемент электронного микроскопа, предназначенный для отклонения электронного пучка электрическими или магнитными полями

Смотри также родственные термины:

отклоняющая система электронного микроскопа (отклоняющая система): Электронно-оптический элемент электронного микроскопа, предназначенный для отклонения электронного пучка электрическими или магнитными полями. [ГОСТ 21006-75, статья 25]


отклоняющая система электронного микроскопа (отклоняющая система): Электронно-оптический элемент электронного микроскопа, предназначенный для отклонения электронного пучка электрическими или магнитными полями. [ГОСТ 21006-75, статья 25]


отклоняющая система электронного микроскопа (отклоняющая система): Электронно-оптический элемент электронного микроскопа, предназначенный для отклонения электронного пучка электрическими или магнитными полями.

[ГОСТ 21006-75, статья 25]


Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации. . 2015.

Поможем написать диплом

Полезное


Смотреть что такое "Отклоняющая система электронного микроскопа" в других словарях:

  • отклоняющая система электронного микроскопа — отклоняющая система Электронно оптический элемент электронного микроскопа, предназначенный для отклонения электронного пучка электрическими или магнитными полями. [ …   Справочник технического переводчика

  • отклоняющая система электронного микроскопа (отклоняющая система) — отклоняющая система электронного микроскопа (отклоняющая система): Электронно оптический элемент электронного микроскопа, предназначенный для отклонения электронного пучка электрическими или магнитными полями. [ГОСТ 21006 75, статья 25] Источник …   Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации

  • ГОСТ Р 8.631-2007: Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки — Терминология ГОСТ Р 8.631 2007: Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки оригинал документа: 3.11 видеопрофиль информативного сигнала (видеопрофиль): Графическая зависимость… …   Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации

  • ГОСТ Р 8.636-2007: Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки — Терминология ГОСТ Р 8.636 2007: Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки оригинал документа: 3.10 видеопрофиль информативного сигнала (видеопрофиль): Графическая зависимость… …   Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации

  • ГОСТ 8.594-2009: Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки — Терминология ГОСТ 8.594 2009: Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки оригинал документа: 3.10 видеопрофиль информативного сигнала (видеопрофиль): Графическая зависимость значения …   Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации

  • ГОСТ 21006-75: Микроскопы электронные. Термины, определения и буквенные обозначения — Терминология ГОСТ 21006 75: Микроскопы электронные. Термины, определения и буквенные обозначения оригинал документа: 12. V образный катод Нрк. Шпилькообразный катод Катод, изготовленный из проволоки, согнутой под острым углом, вершина которого… …   Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации

  • ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП — прибор для наблюдения и фотографирования многократно (до 106 раз) увеличенного изображения объекта, в к ром вместо световых лучей используются пучки электронов, ускоренных до больших энергий (30 1000 кэВ и более) в условиях глубокого вакуума. Физ …   Физическая энциклопедия

  • Электронный микроскоп —         прибор для наблюдения и фотографирования многократно (до 106 раз) увеличенного изображения объектов, в котором вместо световых лучей используются пучки электронов, ускоренных до больших энергий (30 100 кэв и более) в условиях глубокого… …   Большая советская энциклопедия

  • ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП — прибор, который позволяет получать сильно увеличенное изображение объектов, используя для их освещения электроны. Электронный микроскоп (ЭМ) дает возможность видеть детали, слишком мелкие, чтобы их мог разрешить световой (оптический) микроскоп.… …   Энциклопедия Кольера

  • ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП — прибор для наблюдения и фотографирования многократно (до 106 раз) увеличенного изображения объектов, в к ром вместо световых лучей используются пучки эл нов, ускоренных до больших энергий (30 100 кэВ и более) в условиях глубокого вакуума. Физ.… …   Физическая энциклопедия


Поделиться ссылкой на выделенное

Прямая ссылка:
Нажмите правой клавишей мыши и выберите «Копировать ссылку»